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島根大学理学部紀要 16 巻
1982-12-25 発行
マイクロ波抵抗率測定のための空洞摂動法
Cavity Perturbation Techniques for Evaluation of Microwave Resistivities
渡部 眞行
岡 真弘 (旧名:正巳)
本文ファイル
c0010016r006.pdf
( 826 KB )
内容記述
The cavity perturbation technique based on the eddy current loss method is modified so as to enable a rather quick measurement of the temperature dependence of microwave resistivities. A heavily doped p-type Si single crystal is employed as a reference to evaluate the resistivities. Some experimental data are given on polycrystalline MnSe specimens.
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