| ファイル情報(添付) | |
| タイトル |
マイクロ波抵抗率測定のための空洞摂動法
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| タイトル |
Cavity Perturbation Techniques for Evaluation of Microwave Resistivities
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| タイトル 読み |
マイクロハ テイコウリツ ソクテイ ノタメノ クウドウ セツドウホウ
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| 著者 |
渡部 眞行
岡 真弘 (旧名:正巳)
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| 収録物名 |
島根大学理学部紀要
Memoirs of the Faculty of Science, Shimane University
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| 巻 | 16 |
| 開始ページ | 43 |
| 終了ページ | 51 |
| 収録物識別子 |
ISSN 03879925
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| 内容記述 |
抄録・要旨
The cavity perturbation technique based on the eddy current loss method is modified so as to enable a rather quick measurement of the temperature dependence of microwave resistivities. A heavily doped p-type Si single crystal is employed as a reference to evaluate the resistivities. Some experimental data are given on polycrystalline MnSe specimens.
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| 言語 |
英語
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| 資源タイプ | 紀要論文 |
| 出版者 |
島根大学理学部
The Faculty of Science, Shimane University
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| 発行日 | 1982-12-25 |
| アクセス権 | オープンアクセス |
| 関連情報 |
[NCID]
AN00108106
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