| ファイル情報(添付) | |
| タイトル |
Characterization of Hot-Carrier Degraded SiGe/Si-Hetero-PMOSFETs
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| 著者 | |
| 収録物名 |
Thin Solid Films
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| 巻 | 508 |
| 号 | 1-2 |
| 開始ページ | 326 |
| 終了ページ | 328 |
| 収録物識別子 |
ISSN 00406090
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| 主題 |
Metal oxide semiconductor (MOS) devices
Silicon germanium
Hot carrier effects
Interfaces
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| 言語 |
英語
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| 資源タイプ | 学術雑誌論文 |
| 出版者 |
Elsevier
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| 発行日 | 2006 |
| 権利情報 |
Copyright c 2005 Elsevier B.V. All rights reserved.
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| 出版タイプ | Accepted Manuscript（出版雑誌の一論文として受付されたもの。内容とレイアウトは出版社の投稿様式に沿ったもの） |
| アクセス権 | オープンアクセス |
| 関連情報 |
[NCID]
AA00863068
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