教員検索システム 島根大学 附属図書館
  1. 掲載誌名一覧
  2. T
  3. TECHNOLOGY EVOLUTION FOR SILICON NANO-ELECTRONICS
  4. 470
  5. --

TECHNOLOGY EVOLUTION FOR SILICON NANO-ELECTRONICS 470

発行日 (降順)
Capture/Emission Processes of Carriers in Heterointerface Traps Observed in the Transient Charge-Pumping Characteristics of SiGe/Si-Hetero-Channel pMOSFETs
著者 Tsuchiya Toshiaki/ Yoshida Keiichi/ Sakuraba Masao/ Murota Junichi/
掲載誌名 TECHNOLOGY EVOLUTION FOR SILICON NANO-ELECTRONICS
巻 470
発行日 2011
資料タイプ 学術雑誌論文
島根大学附属図書館　コンテンツ担当
TEL：0852-32-6082（内線2760）E-Mail:cat[at]lib.shimane-u.ac.jp
[at]は@に変換してメールをお送りください。
Copyright（C）Shimane University