珪酸塩岩石主成分元素の螢光X線による全自動分析

　周知のように，螢光X線分析装置（XRF）を用いた無機物質の定量分析は迅速に大量の試料の処理ができ，しかも個人差によるデータのばらつきが湿式分析法にくらべはるかに小さくなる，等の優れた点がある。さらに最近は自動分析法も普及してきており，簡便さ迅速さの点でも一段と進歩している。わが国においてもXRF装置による定量分析については理論的ならぴに技術的問題にふれた多くの論文が発表されている（服部，1971，大森，1976，後藤1976，杉崎他1977，YAMAZAKI　ET　AL.,1980;松本・浦辺，1980）。したがってXRFに関わる全般的課題についてはそれらにゆずり，本論文においては1980年12月18日，島根大学に設置されたXRF装置による岩石の主成分10元素（S1，T1，A1，Fe，Mn，Mg，Ca，Na，K，P）の全自動定量分析の問題に限定して報告する。
　本装置は昭和55年度文部省科学研究費（一般研究A：代表者・小林英夫，課題番号542024)によって購入されたものである。