Researchers Database Shimane University Library
  1. Journal list
  2. 電
  3. 電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス
  4. --
  5. --

電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス

Published Date (desc)
Quantitative Evaluation of Interface Traps in a Nanometer-Thick SiGe/Si Heterostructure in Hetero MOS Devices
Author Tsuchiya, Toshiaki/
Journal Title 電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス
Published Date 2006
NII Type Conference Paper
Format PDF
Shimane University Library
TEL：+81(0)852-32-6082　E-Mail:cat[at]lib.shimane-u.ac.jp
replace [at] with @
Copyright（C）Shimane University