Capture/Emission Processes of Carriers in Heterointerface Traps Observed in the Transient Charge-Pumping Characteristics of SiGe/Si-Hetero-Channel pMOSFETs

TECHNOLOGY EVOLUTION FOR SILICON NANO-ELECTRONICS 470 巻 201-+ 頁 2011 発行

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タイトル	Capture/Emission Processes of Carriers in Heterointerface Traps Observed in the Transient Charge-Pumping Characteristics of SiGe/Si-Hetero-Channel pMOSFETs
著者	Tsuchiya Toshiaki Yoshida Keiichi Sakuraba Masao Murota Junichi
収録物名	TECHNOLOGY EVOLUTION FOR SILICON NANO-ELECTRONICS
巻	470
開始ページ	201
終了ページ	+
収録物識別子	ISSN 1013-9826
主題	heterointerface trap; carrier capture process; charge pumping; MOSFET ( その他)
言語	英語
資源タイプ	学術雑誌論文
出版者	TRANS TECH PUBLICATIONS LTD
発行日	2011
アクセス権	メタデータのみ
関連情報	[DOI] 10.4028/www.scientific.net/KEM.470.201