| タイトル |
Capture/Emission Processes of Carriers in Heterointerface Traps Observed in the Transient Charge-Pumping Characteristics of SiGe/Si-Hetero-Channel pMOSFETs
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| 著者 |
Tsuchiya Toshiaki
Yoshida Keiichi
Sakuraba Masao
Murota Junichi
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| 収録物名 |
TECHNOLOGY EVOLUTION FOR SILICON NANO-ELECTRONICS
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| 巻 | 470 |
| 開始ページ | 201 |
| 終了ページ | + |
| 収録物識別子 |
ISSN 1013-9826
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| 主題 |
heterointerface trap; carrier capture process; charge pumping; MOSFET
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| 言語 |
英語
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| 資源タイプ | 学術雑誌論文 |
| 出版者 |
TRANS TECH PUBLICATIONS LTD
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| 発行日 | 2011 |
| アクセス権 | メタデータのみ |
| 関連情報 |
