| ファイル情報(添付) | |
| タイトル |
Hot-Carrier-Degradation of Hetero-Interface in SiGe/Si-Hetero-MOSFETs
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| 著者 | |
| 内容記述 |
その他
■発表会名:2nd International Workshop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics■主催者名:電気通信研究所■開催場所:仙台■発表年月:2006年10月2日～2006年10月3日========================================
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| 言語 |
日本語
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| 資源タイプ | 会議発表論文 |
| 発行日 | 2006 |
| 出版タイプ | Accepted Manuscript（出版雑誌の一論文として受付されたもの。内容とレイアウトは出版社の投稿様式に沿ったもの） |
| アクセス権 | オープンアクセス |
