タイトル |
SiGe/SiヘテロMOSFETにおけるホットキャリアによるヘテロ界面準位の発生
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タイトル |
Hetero-Interface-Trap Generation due to Hot Carriers in SiGe/Si-Hetero-MOSFETs
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著者 | |
収録物名 |
電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌
IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems
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巻 | 126 |
号 | 9 |
開始ページ | 1101 |
終了ページ | 1106 |
収録物識別子 |
ISSN 03854221
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主題 |
MOSFET
SiGe
ホットキャリア
ヘテロ界面準位
チャージポンピング法
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言語 |
日本語
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資源タイプ | 学術雑誌論文 |
出版者 |
電気学会
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発行日 | 2006 |
アクセス権 | メタデータのみ |
関連情報 |
[DOI] 10.1541/ieejeiss.126.1101
[NCID] AN10065950
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