| Title |
SiGe/SiヘテロMOSFETにおけるホットキャリアによるヘテロ界面準位の発生
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| Title |
Hetero-Interface-Trap Generation due to Hot Carriers in SiGe/Si-Hetero-MOSFETs
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| Creator | |
| Source Title |
電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌
IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems
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| Volume | 126 |
| Issue | 9 |
| Start Page | 1101 |
| End Page | 1106 |
| Journal Identifire |
ISSN 03854221
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| Subjects |
MOSFET
SiGe
ホットキャリア
ヘテロ界面準位
チャージポンピング法
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| Language |
jpn
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| Resource Type | journal article |
| Publisher |
電気学会
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| Date of Issued | 2006 |
| Access Rights | metadata only access |
| Relation |
[DOI] 10.1541/ieejeiss.126.1101
[NCID] AN10065950
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