| ID | 51403 |
| File | |
| language |
jpn
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| Title Transcription | サンジゲン X セン トポグラフィ ニヨル ダイヤモンド ケッショウチュウ ノ コウシ ケッカン ノ ケンキュウ
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| Title Alternative (English) | Three dimensional X-ray topographic characterization of diamond crystals
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| Author |
Morikawa, Kimihiko
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| Published Date | 2020-03-19
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| NII Type |
Thesis or Dissertation
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| DOI（SelfDOI） | |
| Text Version |
博士論文全文
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| OAI-PMH Set |
Faculty of Science and Engineering
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| Diploma Number | 甲第684号
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| Granted Date | 2020-03-19
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| Degree Name | 博士（理学）
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| Grantor | 島根大学
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| Graduate Course |
Interdisciplinary Faculty of Science and Engineering
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| Granted Year | 2019
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| Remark | 総博甲第139号
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