| タイトルヨミ | マイクロハ テイコウリツ ソクテイ ノタメノ クウドウ セツドウホウ
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| 日本語以外のタイトル | Cavity Perturbation Techniques for Evaluation of Microwave Resistivities
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| ファイル | |
| 言語 |
英語
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| 著者 |
渡部 眞行
岡 真弘 (旧名:正巳)
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| 内容記述（抄録等） | The cavity perturbation technique based on the eddy current loss method is modified so as to enable a rather quick measurement of the temperature dependence of microwave resistivities. A heavily doped p-type Si single crystal is employed as a reference to evaluate the resistivities. Some experimental data are given on polycrystalline MnSe specimens.
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| 掲載誌名 |
島根大学理学部紀要
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| 巻 | 16
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| 開始ページ | 43
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| 終了ページ | 51
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| ISSN | 03879925
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| 発行日 | 1982-12-25
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| NCID | AN00108106
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| 出版者 | 島根大学理学部
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| 出版者別表記 | The Faculty of Science, Shimane University
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| 資料タイプ |
紀要論文
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| 部局 |
総合理工学部
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| 他の一覧 |
