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言語
日本語
日本語以外のタイトル
Hetero-Interface-Trap Generation due to Hot Carriers in SiGe/Si-Hetero-MOSFETs
著者
土屋 敏章
主題
MOSFET
SiGe
ホットキャリア
ヘテロ界面準位
チャージポンピング法
掲載誌名
電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌
126
9
開始ページ
1101
終了ページ
1106
ISSN
03854221
発行日
2006
DOI
NCID
AN10065950
出版者
電気学会
DCMI
text
資料タイプ
学術雑誌論文
部局
(旧組織)大学院総合理工学研究科
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