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電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス

発行日 (降順)
Quantitative Evaluation of Interface Traps in a Nanometer-Thick SiGe/Si Heterostructure in Hetero MOS Devices
著者 土屋 敏章/
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス
発行日 2006
資料タイプ 会議発表論文
ファイル形式 PDF
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