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Rostislav Velichko

発行日 (降順)
Defect Passivation and Carrier Reduction Mechanisms in Hydrogen-Doped In-Ga-Zn-O (IGZO:H) Films upon Low-Temperature Annealing for Flexible Device Applications
属性 Article
著者 Rostislav Velichko/ 曲 勇作/ Furuta , Mamoru/
掲載誌名 Materials
巻 15
号 1
発行日 2022-1-3
資料タイプ 学術雑誌論文
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