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Quantitative Evaluation of Interface Traps in a Nanometer-Thick SiGe/Si Heterostructure in Hetero MOS Devices
著者
土屋 敏章
/
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス
発行日
2006
資料タイプ
会議発表論文
ファイル形式
PDF
Multi-scale structure of a meso-scale convective system observed over western Sumatera, Indonesia
著者
古津 年章
/
下舞 豊志
/
掲載誌名
Monthly weather review
巻
134
号
6
発行日
2006
資料タイプ
会議発表論文
ファイル形式
PDF
Hot-Carrier-Degradation of Hetero-Interface in SiGe/Si-Hetero-MOSFETs
著者
土屋 敏章
/
発行日
2006
資料タイプ
会議発表論文
ファイル形式
PDF
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